光谱法测碳硫元素
光谱法,有ICP法,用于定量分析金属中的碳量和硫量,近年来国内外不断有所报道。为了得到良好的放电气氛,用95%Ar和5%H2作为载气,预火花时间延长到40s,并使用强衰减放电方法,测样品中的硫量。金属样品置于钨与钼电极之间,在氧气气氛中,用电弧将金属中的碳转为CO和CO2,然后用发射发谱分析产生的气体混合物,检出限为0.001%。碳—铁—氧系统中的CO 、CO2、氧化铁等平衡浓度,是电弧温度的函数,可以计算出来。优化发射光谱的某些操作条件,可使其运用于分析金属中高含量和痕量元素的检测。例如,用发射光谱分析非合金钢和合金钢时,将预火花时间和积分时间优化成标准偏差的函数,可同时检测多元素,并且拓宽了检测范围。又如,利用研究出的一种超细粒子产生系统(UFP),借助火花电弧使样品中产生细粒子,并把细粒子加速到电感耦合发射光谱中,直接分析样品,使光谱法在分析金属碳、硫的应用中得到进一步发展
下一篇:红外法测定碳硫
电话:025-57332233 57330555 售后服务:025-57337678 传真;025-57332266 邮 箱:nsf@nsfcn.com 服务热线:400-8286828 地址:江苏省南京市高淳区经济开发区双高路65号
南京第四分析仪器有限公司 备案号: 苏ICP备09003477号-3 技术支持: 美一软件